- Danh mục
- Wassenaar – Danh mục hàng hóa và công nghệ lưỡng dụng – WA-LIST (25) 1
- Mục tương ứng của EU
- 2B006
a. Máy đo tọa độ (CMM) điều khiển bằng máy tính hoặc "điều khiển số", có sai số lớn nhất cho phép của phép đo chiều dài ba chiều (thể tích) (E0,MPE) tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy (tức là trong phạm vi chiều dài các trục) bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1,7 + L/1 000 ) μm (L là chiều dài được đo tính bằng mm), theo ISO 10360-2:2009;
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.a., E0,MPE của cấu hình CMM chính xác nhất do nhà sản xuất quy định (ví dụ: tốt nhất trong các yếu tố sau: đầu dò, chiều dài kim đo, thông số chuyển động, môi trường) và với "tất cả các bù trừ hiện có" phải được so sánh với ngưỡng 1,7+L/1 000 μm.
Lưu ý: XEM THÊM 2B206.
b. Thiết bị hoặc hệ thống đo độ dịch chuyển tuyến tính, bộ phản hồi vị trí tuyến tính và "cụm lắp ráp điện tử", như sau:
Chú thích:
Hệ thống đo bằng giao thoa kế và bộ mã hóa quang học có chứa "laser" chỉ được quy định tại 2B006.b.3 và 2B206.c.
1. 'Hệ thống đo loại không tiếp xúc' có 'độ phân giải' bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,2 μm trong khoảng từ 0 đến 0,2 mm của 'dải đo';
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.b.1.:
1. 'Hệ thống đo loại không tiếp xúc' được thiết kế để đo khoảng cách giữa đầu dò và vật được đo theo một véc-tơ duy nhất, trong đó đầu dò hoặc vật được đo đang chuyển động.
2. 'Dải đo' là khoảng cách giữa khoảng cách làm việc nhỏ nhất và lớn nhất.
2. Bộ phản hồi vị trí tuyến tính được thiết kế đặc biệt cho máy công cụ và có "độ chính xác" tổng thể nhỏ hơn (tốt hơn) (800 + (600 × L/1 000 )) nm (L là chiều dài hiệu dụng tính bằng mm);
3. Hệ thống đo có tất cả các đặc tính sau đây:
a. Có chứa "laser";
b. 'Độ phân giải' trên toàn thang đo bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,200 nm; và
c. Có khả năng đạt "độ không đảm bảo đo" bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1,6 + L/2 000 ) nm (L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong dải đo, khi được bù chiết suất của không khí và được đo trong khoảng thời gian 30 giây ở nhiệt độ 20 ± 0,01 °C;
4. "Cụm lắp ráp điện tử" được thiết kế đặc biệt để cung cấp khả năng phản hồi trong các hệ thống được quy định tại 2B006.b.3.;
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.b., 'độ phân giải' là gia số nhỏ nhất của thiết bị đo; đối với thiết bị kỹ thuật số là bit có trọng số nhỏ nhất.
c. Bộ phản hồi vị trí quay được thiết kế đặc biệt cho máy công cụ hoặc thiết bị đo độ dịch chuyển góc, có "độ chính xác" vị trí góc bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,9 giây cung;
Chú thích:
2B006.c. không kiểm soát thiết bị quang học, như máy tự chuẩn trực, sử dụng ánh sáng chuẩn trực (ví dụ: ánh sáng "laser") để phát hiện độ dịch chuyển góc của gương.
d. Thiết bị đo độ nhám bề mặt (bao gồm cả khuyết tật bề mặt) bằng cách đo tán xạ quang học với độ nhạy bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,5 nm.
Chú thích:
2B006 bao gồm máy công cụ, trừ loại được quy định tại 2B001, có thể được sử dụng làm máy đo nếu đáp ứng hoặc vượt các tiêu chí quy định đối với chức năng máy đo.
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.a., E0,MPE của cấu hình CMM chính xác nhất do nhà sản xuất quy định (ví dụ: tốt nhất trong các yếu tố sau: đầu dò, chiều dài kim đo, thông số chuyển động, môi trường) và với "tất cả các bù trừ hiện có" phải được so sánh với ngưỡng 1,7+L/1 000 μm.
Lưu ý: XEM THÊM 2B206.
b. Thiết bị hoặc hệ thống đo độ dịch chuyển tuyến tính, bộ phản hồi vị trí tuyến tính và "cụm lắp ráp điện tử", như sau:
Chú thích:
Hệ thống đo bằng giao thoa kế và bộ mã hóa quang học có chứa "laser" chỉ được quy định tại 2B006.b.3 và 2B206.c.
1. 'Hệ thống đo loại không tiếp xúc' có 'độ phân giải' bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,2 μm trong khoảng từ 0 đến 0,2 mm của 'dải đo';
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.b.1.:
1. 'Hệ thống đo loại không tiếp xúc' được thiết kế để đo khoảng cách giữa đầu dò và vật được đo theo một véc-tơ duy nhất, trong đó đầu dò hoặc vật được đo đang chuyển động.
2. 'Dải đo' là khoảng cách giữa khoảng cách làm việc nhỏ nhất và lớn nhất.
2. Bộ phản hồi vị trí tuyến tính được thiết kế đặc biệt cho máy công cụ và có "độ chính xác" tổng thể nhỏ hơn (tốt hơn) (800 + (600 × L/1 000 )) nm (L là chiều dài hiệu dụng tính bằng mm);
3. Hệ thống đo có tất cả các đặc tính sau đây:
a. Có chứa "laser";
b. 'Độ phân giải' trên toàn thang đo bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,200 nm; và
c. Có khả năng đạt "độ không đảm bảo đo" bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1,6 + L/2 000 ) nm (L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong dải đo, khi được bù chiết suất của không khí và được đo trong khoảng thời gian 30 giây ở nhiệt độ 20 ± 0,01 °C;
4. "Cụm lắp ráp điện tử" được thiết kế đặc biệt để cung cấp khả năng phản hồi trong các hệ thống được quy định tại 2B006.b.3.;
Chú thích kỹ thuật:
Trong phạm vi 2B006.b., 'độ phân giải' là gia số nhỏ nhất của thiết bị đo; đối với thiết bị kỹ thuật số là bit có trọng số nhỏ nhất.
c. Bộ phản hồi vị trí quay được thiết kế đặc biệt cho máy công cụ hoặc thiết bị đo độ dịch chuyển góc, có "độ chính xác" vị trí góc bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,9 giây cung;
Chú thích:
2B006.c. không kiểm soát thiết bị quang học, như máy tự chuẩn trực, sử dụng ánh sáng chuẩn trực (ví dụ: ánh sáng "laser") để phát hiện độ dịch chuyển góc của gương.
d. Thiết bị đo độ nhám bề mặt (bao gồm cả khuyết tật bề mặt) bằng cách đo tán xạ quang học với độ nhạy bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0,5 nm.
Chú thích:
2B006 bao gồm máy công cụ, trừ loại được quy định tại 2B001, có thể được sử dụng làm máy đo nếu đáp ứng hoặc vượt các tiêu chí quy định đối với chức năng máy đo.
Nguyên văn tiếng Anh
a. Computer controlled or "numerical controlled" Coordinate Measuring Machines (CMM), having a three dimensional (volumetric) maximum permissible error of length measurement (E_(0,MPE)) at any point within the operating range of the machine (i.e., within the length of axes) equal to or less (better) than 1.7 + L/1,000 µm (L is the measured length in mm), according to ISO 10360-2:2009;
Technical Notes
For the purposes of 2.B.6.a.:
1. The E_(0,MPE) of the most accurate configuration of the CMM specified by the manufacturer (e.g., best of the following: probe, stylus length, motion parameters, environment) and with 'all compensations available' shall be compared to the 1.7 + L/1,000 µm threshold.
2. 'All compensations available' means after all feasible measures available to the manufacturer to minimise all systematic positioning errors for the particular machine-tool model or measuring errors or the particular CMM are considered.
b. Linear displacement measuring instruments or systems, linear position feedback units, and "electronic assemblies", as follows:
Note Interferometer and optical-encoder measuring systems containing a "laser" are only specified in 2.B.6.b.3.
1. 'Non-contact type measuring systems' with a 'resolution' equal to or less (better) than 0.2 µm within 0 to 0.2 mm of the 'measuring range';
Technical Notes
For the purposes of 2.B.6.b.1.:
1. 'Non-contact type measuring systems' are designed to measure the distance between the probe and measured object along a single vector, where the probe or measured object is in motion.
2. 'Measuring range' means the distance between the minimum and maximum working distance.
b. 2. Linear position feedback units specially designed for machine tools and having an overall "accuracy" less (better) than (800 + (600 x L/1,000)) nm (L equals effective length in mm);
3. Measuring systems having all of the following:
a. Containing a "laser";
b. A 'resolution' over their full scale of 0.200 nm or less (better); and
c. Capable of achieving a 'measurement uncertainty' equal to or less (better) than (1.6 + L/2,000) nm (L is the measured length in mm) at any point within a measuring range, when compensated for the refractive index of air and measured over a period of 30 seconds at a temperature of 20±0.01ºC;
Technical Notes
1. For the purposes of 2.B.6.b., 'resolution' is the least increment of a measuring device; on digital instruments, the least significant bit.
2. For the purposes of 2.B.6.b.3.c., 'measurement uncertainty' is the characteristic parameter which specifies in what range around the output value the correct value of the measurable variable lies with a confidence level of 95%. It includes the uncorrected systematic deviations, the uncorrected backlash and the random deviations (ISO 10360-2).
b. 4. "Electronic assemblies" specially designed to provide feedback capability in systems specified in 2.B.6.b.3.;
c. Rotary position feedback units specially designed for machine tools or angular displacement measuring instruments, having an angular position "accuracy" equal to or less (better) than 0.9 second of arc;
Note 2.B.6.c. does not apply to optical instruments, such as autocollimators, using collimated light (e.g., laser light) to detect angular displacement of a mirror.
d. Equipment for measuring surface roughness (including surface defects), by measuring optical scatter with a sensitivity of 0.5 nm or less (better).
Note 2.B.6. includes machine tools, other than those specified in 2.B.1., that can be used as measuring machines if they meet or exceed the criteria specified for the measuring machine function.
Technical Notes
For the purposes of 2.B.6.a.:
1. The E_(0,MPE) of the most accurate configuration of the CMM specified by the manufacturer (e.g., best of the following: probe, stylus length, motion parameters, environment) and with 'all compensations available' shall be compared to the 1.7 + L/1,000 µm threshold.
2. 'All compensations available' means after all feasible measures available to the manufacturer to minimise all systematic positioning errors for the particular machine-tool model or measuring errors or the particular CMM are considered.
b. Linear displacement measuring instruments or systems, linear position feedback units, and "electronic assemblies", as follows:
Note Interferometer and optical-encoder measuring systems containing a "laser" are only specified in 2.B.6.b.3.
1. 'Non-contact type measuring systems' with a 'resolution' equal to or less (better) than 0.2 µm within 0 to 0.2 mm of the 'measuring range';
Technical Notes
For the purposes of 2.B.6.b.1.:
1. 'Non-contact type measuring systems' are designed to measure the distance between the probe and measured object along a single vector, where the probe or measured object is in motion.
2. 'Measuring range' means the distance between the minimum and maximum working distance.
b. 2. Linear position feedback units specially designed for machine tools and having an overall "accuracy" less (better) than (800 + (600 x L/1,000)) nm (L equals effective length in mm);
3. Measuring systems having all of the following:
a. Containing a "laser";
b. A 'resolution' over their full scale of 0.200 nm or less (better); and
c. Capable of achieving a 'measurement uncertainty' equal to or less (better) than (1.6 + L/2,000) nm (L is the measured length in mm) at any point within a measuring range, when compensated for the refractive index of air and measured over a period of 30 seconds at a temperature of 20±0.01ºC;
Technical Notes
1. For the purposes of 2.B.6.b., 'resolution' is the least increment of a measuring device; on digital instruments, the least significant bit.
2. For the purposes of 2.B.6.b.3.c., 'measurement uncertainty' is the characteristic parameter which specifies in what range around the output value the correct value of the measurable variable lies with a confidence level of 95%. It includes the uncorrected systematic deviations, the uncorrected backlash and the random deviations (ISO 10360-2).
b. 4. "Electronic assemblies" specially designed to provide feedback capability in systems specified in 2.B.6.b.3.;
c. Rotary position feedback units specially designed for machine tools or angular displacement measuring instruments, having an angular position "accuracy" equal to or less (better) than 0.9 second of arc;
Note 2.B.6.c. does not apply to optical instruments, such as autocollimators, using collimated light (e.g., laser light) to detect angular displacement of a mirror.
d. Equipment for measuring surface roughness (including surface defects), by measuring optical scatter with a sensitivity of 0.5 nm or less (better).
Note 2.B.6. includes machine tools, other than those specified in 2.B.1., that can be used as measuring machines if they meet or exceed the criteria specified for the measuring machine function.