- Danh mục
- NSG – Hàng hóa lưỡng dụng liên quan hạt nhân (Phần 2) – INFCIRC/254/Rev.13/Part 2
a. Máy đo tọa độ (CMM) điều khiển bằng máy tính hoặc điều khiển số có một trong hai đặc tính sau đây:
1. Chỉ có hai trục và có sai số lớn nhất cho phép của phép đo chiều dài dọc theo bất kỳ trục nào (một chiều), được xác định là tổ hợp bất kỳ của E0x MPE, E0y MPE hoặc E0z MPE, bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1.25 + L/1000) μm (trong đó L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy (tức là trong phạm vi chiều dài của trục), theo ISO 10360-2(2009); hoặc
2. Ba trục trở lên và có sai số lớn nhất cho phép của phép đo chiều dài ba chiều (thể tích) (E0, MPE bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1.7 + L/800) µm (trong đó L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy (tức là trong phạm vi chiều dài của trục), theo ISO 10360-2(2009).
Chú thích kỹ thuật: E0, MPE của cấu hình CMM chính xác nhất do nhà sản xuất quy định theo ISO 10360-2(2009) (ví dụ: tốt nhất trong các yếu tố sau: đầu dò, chiều dài kim đo, thông số chuyển động, môi trường) và với tất cả các bù trừ hiện có phải được so sánh với ngưỡng 1.7 + L/800 µm.
b. Thiết bị đo độ dịch chuyển tuyến tính, như sau:
1. Hệ thống đo loại không tiếp xúc có “độ phân giải” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn)
0.2 µm trong dải đo đến 0.2 mm;
2. Hệ thống biến áp vi sai biến đổi tuyến tính (LVDT) có cả hai đặc tính sau đây:
a. 1. “Độ tuyến tính” bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0.1% đo từ 0 đến toàn bộ dải hoạt động, đối với LVDT có dải hoạt động đến 5 mm; hoặc
2. “Độ tuyến tính” bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0.1% đo từ 0 đến 5 mm đối với LVDT có dải hoạt động lớn hơn 5 mm; và
b. Độ trôi bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 0.1% mỗi ngày ở nhiệt độ phòng thử nghiệm môi trường tiêu chuẩn ± 1 K (± 1 ºC);
3. Hệ thống đo có cả hai đặc tính sau đây:
a. Có chứa laser; và
b. Có khả năng duy trì trong ít nhất 12 h, trong dải nhiệt độ ± 1 K (-± 1 ºC) quanh nhiệt độ tiêu chuẩn và áp suất tiêu chuẩn:
1. “Độ phân giải” trên toàn thang đo bằng hoặc tốt hơn 0.1 µm; và
2. Với “độ không đảm bảo đo” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn)
(0.2 + L/2000) µm (L là chiều dài được đo tính bằng mm);
Chú thích: Mục 1.B.3.b.3. không kiểm soát hệ thống giao thoa kế đo lường, không có phản hồi vòng kín hoặc vòng hở, có chứa laser để đo sai số chuyển động bàn trượt của máy công cụ, máy kiểm tra kích thước hoặc thiết bị tương tự.
Chú thích kỹ thuật: Tại Mục 1.B.3.b., ‘độ dịch chuyển tuyến tính’ là sự thay đổi khoảng cách giữa đầu dò đo và vật được đo.
c. Thiết bị đo độ dịch chuyển góc có “độ lệch vị trí góc” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 0.00025°;
Chú thích: Mục 1.B.3.c. không kiểm soát các thiết bị quang học, chẳng hạn như ống chuẩn trực tự động, sử dụng chùm sáng chuẩn trực (ví dụ: ánh sáng laser) để phát hiện độ dịch chuyển góc của một gương.
d. Hệ thống kiểm tra đồng thời tuyến tính - góc đối với bán vỏ cầu, có cả hai đặc tính sau đây:
1. “Độ không đảm bảo đo” dọc theo bất kỳ trục tuyến tính nào bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 3.5 µm trên 5 mm; và
2. “Độ lệch vị trí góc” bằng hoặc nhỏ hơn 0.02°.
Chú thích: 1. Mục 1.B.3. bao gồm các máy công cụ, trừ loại được quy định tại Mục 1.B.2, có thể được sử dụng làm máy đo nếu chúng đáp ứng hoặc vượt các tiêu chí quy định đối với chức năng máy đo.
2. Máy được mô tả tại Mục 1.B.3. thuộc diện kiểm soát nếu chúng vượt ngưỡng quy định tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy.
Chú thích kỹ thuật: Tất cả các thông số của giá trị đo tại mục này thể hiện giá trị cộng/trừ, tức là không phải toàn dải.
1. Chỉ có hai trục và có sai số lớn nhất cho phép của phép đo chiều dài dọc theo bất kỳ trục nào (một chiều), được xác định là tổ hợp bất kỳ của E0x MPE, E0y MPE hoặc E0z MPE, bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1.25 + L/1000) μm (trong đó L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy (tức là trong phạm vi chiều dài của trục), theo ISO 10360-2(2009); hoặc
2. Ba trục trở lên và có sai số lớn nhất cho phép của phép đo chiều dài ba chiều (thể tích) (E0, MPE bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) (1.7 + L/800) µm (trong đó L là chiều dài được đo tính bằng mm) tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy (tức là trong phạm vi chiều dài của trục), theo ISO 10360-2(2009).
Chú thích kỹ thuật: E0, MPE của cấu hình CMM chính xác nhất do nhà sản xuất quy định theo ISO 10360-2(2009) (ví dụ: tốt nhất trong các yếu tố sau: đầu dò, chiều dài kim đo, thông số chuyển động, môi trường) và với tất cả các bù trừ hiện có phải được so sánh với ngưỡng 1.7 + L/800 µm.
b. Thiết bị đo độ dịch chuyển tuyến tính, như sau:
1. Hệ thống đo loại không tiếp xúc có “độ phân giải” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn)
0.2 µm trong dải đo đến 0.2 mm;
2. Hệ thống biến áp vi sai biến đổi tuyến tính (LVDT) có cả hai đặc tính sau đây:
a. 1. “Độ tuyến tính” bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0.1% đo từ 0 đến toàn bộ dải hoạt động, đối với LVDT có dải hoạt động đến 5 mm; hoặc
2. “Độ tuyến tính” bằng hoặc nhỏ hơn (tốt hơn) 0.1% đo từ 0 đến 5 mm đối với LVDT có dải hoạt động lớn hơn 5 mm; và
b. Độ trôi bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 0.1% mỗi ngày ở nhiệt độ phòng thử nghiệm môi trường tiêu chuẩn ± 1 K (± 1 ºC);
3. Hệ thống đo có cả hai đặc tính sau đây:
a. Có chứa laser; và
b. Có khả năng duy trì trong ít nhất 12 h, trong dải nhiệt độ ± 1 K (-± 1 ºC) quanh nhiệt độ tiêu chuẩn và áp suất tiêu chuẩn:
1. “Độ phân giải” trên toàn thang đo bằng hoặc tốt hơn 0.1 µm; và
2. Với “độ không đảm bảo đo” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn)
(0.2 + L/2000) µm (L là chiều dài được đo tính bằng mm);
Chú thích: Mục 1.B.3.b.3. không kiểm soát hệ thống giao thoa kế đo lường, không có phản hồi vòng kín hoặc vòng hở, có chứa laser để đo sai số chuyển động bàn trượt của máy công cụ, máy kiểm tra kích thước hoặc thiết bị tương tự.
Chú thích kỹ thuật: Tại Mục 1.B.3.b., ‘độ dịch chuyển tuyến tính’ là sự thay đổi khoảng cách giữa đầu dò đo và vật được đo.
c. Thiết bị đo độ dịch chuyển góc có “độ lệch vị trí góc” bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 0.00025°;
Chú thích: Mục 1.B.3.c. không kiểm soát các thiết bị quang học, chẳng hạn như ống chuẩn trực tự động, sử dụng chùm sáng chuẩn trực (ví dụ: ánh sáng laser) để phát hiện độ dịch chuyển góc của một gương.
d. Hệ thống kiểm tra đồng thời tuyến tính - góc đối với bán vỏ cầu, có cả hai đặc tính sau đây:
1. “Độ không đảm bảo đo” dọc theo bất kỳ trục tuyến tính nào bằng hoặc tốt hơn (nhỏ hơn) 3.5 µm trên 5 mm; và
2. “Độ lệch vị trí góc” bằng hoặc nhỏ hơn 0.02°.
Chú thích: 1. Mục 1.B.3. bao gồm các máy công cụ, trừ loại được quy định tại Mục 1.B.2, có thể được sử dụng làm máy đo nếu chúng đáp ứng hoặc vượt các tiêu chí quy định đối với chức năng máy đo.
2. Máy được mô tả tại Mục 1.B.3. thuộc diện kiểm soát nếu chúng vượt ngưỡng quy định tại bất kỳ điểm nào trong phạm vi hoạt động của máy.
Chú thích kỹ thuật: Tất cả các thông số của giá trị đo tại mục này thể hiện giá trị cộng/trừ, tức là không phải toàn dải.
Nguyên văn tiếng Anh
a. Computer controlled or numerically controlled coordinate measuring machines (CMM) having either of the following characteristics:
1. Having only two axes and having a maximum permissible error of length measurement along any axis (one dimensional), identified as any combination of E0x MPE, E0y MPE or E0z MPE, equal to or less (better) than (1.25 + L/1000) μm (where L is the measured length in mm) at any point within the operating range of the machine (i.e., within the length of the axis), according to ISO 10360-2(2009); or
2. Three or more axes and having a three dimensional (volumetric) maximum permissible error of length measurement (E0, MPE equal to or less (better) than (1.7 + L/800) µm (where L is the measured length in mm) at any point within the operating range of the machine (i.e., within the length of the axis), according to ISO 10360-2(2009).
Technical Note: The E0, MPE of the most accurate configuration of the CMM specified according to ISO 10360-2(2009) by the manufacturer (e.g., best of the following: probe, stylus length, motion parameters, environment) and with all compensations available shall be compared to the 1.7 + L/800 µm threshold.
b. Linear displacement measuring instruments, as follows:
1. Non-contact type measuring systems with a “resolution” equal to or better (less) than
0.2 µm within a measuring range up to 0.2 mm;
2. Linear variable differential transformer (LVDT) systems having both of the following characteristics:
a. 1. “Linearity” equal to or less (better) than 0.1% measured from 0 to the full operating range, for LVDTs with an operating range up to 5 mm; or
2. “Linearity” equal to or less (better) than 0.1% measured from 0 to 5 mm for LVDTs with an operating range greater than 5 mm; and
b. Drift equal to or better (less) than 0.1% per day at a standard ambient test room temperature ± 1 K (± 1 ºC);
3. Measuring systems having both of the following characteristics:
a. Containing a laser; and
b. Capable of maintaining for at least 12 h, over a temperature range of ± 1 K (-± 1 ºC) around a standard temperature and a standard pressure:
1. A “resolution” over their full scale of 0.1 µm or better; and
2. With a “measurement uncertainty” equal to or better (less) than
(0.2 + L/2000) µm (L is the measured length in mm);
Note: Item 1.B.3.b.3. does not control measuring interferometer systems, without closed or open loop feedback, containing a laser to measure slide movement errors of machine tools, dimensional inspection machines, or similar equipment.
Technical Note: In Item 1.B.3.b. ‘linear displacement’ means the change of distance between the measuring probe and the measured object.
c. Angular displacement measuring instruments having an “angular position deviation” equal to or better (less) than 0.00025°;
Note: Item 1.B.3.c. does not control optical instruments, such as autocollimators, using collimated light (e.g., laser light) to detect angular displacement of a mirror.
d. Systems for simultaneous linear-angular inspection of hemishells, having both of the following characteristics:
1. “Measurement uncertainty” along any linear axis equal to or better (less) than 3.5 µm per 5 mm; and
2. “Angular position deviation” equal to or less than 0.02°.
Notes: 1. Item 1.B.3. includes machine tools, other than those specified by 1.B.2, that can be used as measuring machines if they meet or exceed the criteria specified for the measuring machine function.
2. Machines described in Item 1.B.3. are controlled if they exceed the threshold specified anywhere within their operating range.
Technical Note: All parameters of measurement values in this item represent plus/minus, i.e., not total band.
1. Having only two axes and having a maximum permissible error of length measurement along any axis (one dimensional), identified as any combination of E0x MPE, E0y MPE or E0z MPE, equal to or less (better) than (1.25 + L/1000) μm (where L is the measured length in mm) at any point within the operating range of the machine (i.e., within the length of the axis), according to ISO 10360-2(2009); or
2. Three or more axes and having a three dimensional (volumetric) maximum permissible error of length measurement (E0, MPE equal to or less (better) than (1.7 + L/800) µm (where L is the measured length in mm) at any point within the operating range of the machine (i.e., within the length of the axis), according to ISO 10360-2(2009).
Technical Note: The E0, MPE of the most accurate configuration of the CMM specified according to ISO 10360-2(2009) by the manufacturer (e.g., best of the following: probe, stylus length, motion parameters, environment) and with all compensations available shall be compared to the 1.7 + L/800 µm threshold.
b. Linear displacement measuring instruments, as follows:
1. Non-contact type measuring systems with a “resolution” equal to or better (less) than
0.2 µm within a measuring range up to 0.2 mm;
2. Linear variable differential transformer (LVDT) systems having both of the following characteristics:
a. 1. “Linearity” equal to or less (better) than 0.1% measured from 0 to the full operating range, for LVDTs with an operating range up to 5 mm; or
2. “Linearity” equal to or less (better) than 0.1% measured from 0 to 5 mm for LVDTs with an operating range greater than 5 mm; and
b. Drift equal to or better (less) than 0.1% per day at a standard ambient test room temperature ± 1 K (± 1 ºC);
3. Measuring systems having both of the following characteristics:
a. Containing a laser; and
b. Capable of maintaining for at least 12 h, over a temperature range of ± 1 K (-± 1 ºC) around a standard temperature and a standard pressure:
1. A “resolution” over their full scale of 0.1 µm or better; and
2. With a “measurement uncertainty” equal to or better (less) than
(0.2 + L/2000) µm (L is the measured length in mm);
Note: Item 1.B.3.b.3. does not control measuring interferometer systems, without closed or open loop feedback, containing a laser to measure slide movement errors of machine tools, dimensional inspection machines, or similar equipment.
Technical Note: In Item 1.B.3.b. ‘linear displacement’ means the change of distance between the measuring probe and the measured object.
c. Angular displacement measuring instruments having an “angular position deviation” equal to or better (less) than 0.00025°;
Note: Item 1.B.3.c. does not control optical instruments, such as autocollimators, using collimated light (e.g., laser light) to detect angular displacement of a mirror.
d. Systems for simultaneous linear-angular inspection of hemishells, having both of the following characteristics:
1. “Measurement uncertainty” along any linear axis equal to or better (less) than 3.5 µm per 5 mm; and
2. “Angular position deviation” equal to or less than 0.02°.
Notes: 1. Item 1.B.3. includes machine tools, other than those specified by 1.B.2, that can be used as measuring machines if they meet or exceed the criteria specified for the measuring machine function.
2. Machines described in Item 1.B.3. are controlled if they exceed the threshold specified anywhere within their operating range.
Technical Note: All parameters of measurement values in this item represent plus/minus, i.e., not total band.